请教SerDes中RX侧数据信号丢失检测Alos电路的问题

los检测方式有两种：
不经过LA的小信号检测，和经过LA处理后的大信号检测
从电路实现上来说，大信号检测容易实现，但需要考虑几个问题
LA放大倍数太小，必然不行，但当放大倍数过大，可能使得噪声被放大导致误检测以及信号放大后被LA限幅，这就给LA增加了很多工作，如采用增益可调的LA等等，但总的说来，经过处理后的信号，总不如自身准确。
小信号检测，检测的信号未经过处理，但检测起来很麻烦，具体体现在由于信号幅值太小，噪声也可能对这个数据信号的检测产生干扰。
除了上述比较，我想求教大家，针对大信号和小信号检测，他们各自还有什么值得我们关注的优缺点么?
如果各位要选择小信号检测，是从何种情况考虑?比如说精准度?
如果选择大信号检测，又是如何考虑的?
最后我想请教下，对于大信号检测，在1V电源电压下，还是选择1级MOS管电流镜构成的比较器?

有人能推荐关于ALOS检测方面的文章吗?
只看专利也不行啊。

谢谢分享！