关于“热失控”

maybe find this issue in ESD failure.

在ESD电路中确实有这种现象。
比如，电阻的温度系数是负的。
则电流越大，温度越高，电阻越小，
最后电流越来越大，形成正反馈。
最后把器件烧掉。所以在ESD电路中
一般都用正温度系数的电阻。

一般 wELL 是正?好像 POLY 都是負的.. 而 ESD RESISTOR 不須準很多DESIGN使用 ESD RES 是 N_WELL而且 還畫寬增加電流但是N_WELL 電阻有電壓的問題當 VCC 如 FLOATING 下會出事 . 某些 ICTEST 會讓VCC FLOATING看是否 IC 會燒掉

常见于pa设计，电子迁移率随温度升高而降低，为保持恒定的驱动电流，常须做栅极过载电压的ptat设计，产生的效果就是恒定的电流驱动产生热量，温度上升时而电流恒定，不断造成热量积累，最终烧掉管子。这就是thermal runaway。