求助：CC2541利用IO口测量电容放电时间的奇怪问题。

尊敬的TI工程师：

您好！我有个问题想向你们请教。

我用CC2541的IO口测量电容放电时间。

P12、P13先为高，然后置P12为AD输入，然后置P13为0，启动定时器1。P12会缓慢下降，下降至低电平阈值时触发定时器中断，从而计算放电时间。

这是一个非常常用的方法。但是在测试时我发现一个奇怪的问题：

我在整个程序中有两个地方触发测量，这里分别叫A处和B处。按理来说，A处和B处应该测出来的值是一样的，因为触发测量后，都是定时器在计量时间。

当R=1M，C=620pF时，A处测出来值为0x0250左右，十分稳定，大约1%的抖动；B处测出来值也为0x0250左右，十分稳定，大约1%的抖动。

而当R=1M，C=10nF时，A处测出来值为0x1C00左右，数值抖动有些大，大约有10%的抖动范围；但B处测出来值却在0x1100和0x1900之间来回跳动，像0x11XX、0x11XX、0x19XX这样，大约2:1的出现概率。抖动范围非常大，并且和A处测出来的值大相径庭。

我感觉就是定时器1的计时时间一长，就会有这个问题。求教高手，可能是什么原因？

会不会是定时器计时时间长了以后，与OSAL的运行哪里出现了冲突？

上述测量是我用电池供电情况下测的。而当我用USB仿真器插着我的板子供电时，即使R=1M，C=620pF，B处测出来的值也会在B处测出来值却在0x1100和0x1900之间来回跳动，与上面不同的是，值是从0x11XX逐渐增大到0x19XX，然后再下降到0x11XX。

电池供电和仿真器供电的区别，应该是仿真器供电，cc2541就不进入休眠吧。为何会这样呢？

求高手帮助！十分感谢！

不好意思，拜读两边没太看懂:-)

但不管怎样，P13加个FET，通过沟道开关应该是更稳定的。

另，P口电压都是3V吗？（两种工作状态下）可以用示波器看看纹波啥的，而且也可以检测一下放点曲线的区别。

AZ，

     非常感谢回复！

     我确认了，放电波形没有问题。

     我定位了我问题的原因，只要禁止休眠测量值就正确且稳定了。

     因为当外部时间达到10ms时，启动定时器计数一段时间后，OSAL让MCU进入了休眠PM2模式，定时器被关闭了。造成测量不准。

     我现在在每次测量时，先关闭休眠，测量完再打开就OK了。不过这样就是测量时不能休眠，比较费电，我电池能用的时间缩短了很多。

     有什么办法，既可以让MCU休眠，又可以让定时器在休眠时继续计数吗？

     或者有什么其他建议？

     非常感谢！

Frank