微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 无线和射频 > TI蓝牙设计交流 > BLE调试出错

BLE调试出错

时间:10-02 整理:3721RD 点击:

发在这个版块不知道合不合适,反正快崩溃了,下午突然就出现了这个问题,编译,下载,都没问题,单步执行就出错,已经换了三个仿真器,两块板子,N个原封未动的例程,都是这样。

提示的是Driver Error,重装一下软件看看

重启了一下电脑,一般不会出现这个问题了。但是有了新的问题,同样是CC2540原封未动的central例程,我拿镊子去碰按键IO口(hal_key中定义的是P0_1),能够正常进中断,但是提示栈溢出,观察内存,确实被填满了。。不知道是硬件原因还是代码问题,以前玩CC2530的时候,拿镊子怎么捅都正常工作。。

这个现象十分奇怪,在P0的ISR里打个断点,拿镊子触发中断,在断点处停住,再点全速运行,外部中断依然能正常工作,但是如果我主动点停止运行,就提示栈溢出,再点全速运行,程序似乎就跑飞了,再也没办法触发了。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top