微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 硬件电路设计 > TI模拟硬件电路设计 > 功放性能测试

功放性能测试

时间:10-02 整理:3721RD 点击:

    各位大侠,以下测试问题请教一下:1)测试功放性能时输入是需要选择平衡输入还是非平衡输入?这个是什么含义?2)如果是单通道输入,需要测试“相位”这一项吗?3)测试谐波失真时主要看THD还是THD+N?如果THD很小,THD+N偏大,可能是会什么原因造成的呢?

    菜鸟求教,谢谢!

亲,除S6500标准外,其它测试项目由需要决定。至于THD的问题,THD+N高;THD也好不到哪里去。这两个量有一定的关联关系。至于THD+N大,多是PCB设计不良或LPF设计的有问题所致。详细情况需看测试结果。

你好:

1.两种方法都可以。通常功放的接法都固定了,那么电路是平衡输入,测试就选平衡输入;电路是不平衡输入,测试就选不平衡。

2.平衡又要差分输入,不平衡又叫单端输入。差分输入共模抑制比高,两端的噪声可以相互抵消。

3.THD+N一般是在一起,因为仪器不能把THD和N分开,试问如何把微小的噪声滤除呢。所以我们测试线性度,都说THD+N。

 

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top