ads1294r芯片的导联脱落检测

时间：10-02 整理：3721RD 点击：

TI的专家，你们好！

我在调试ads1294r导联脱落的时候遇到了这样的问提：

LOFF寄存器的VLEAD_OFF_EN，设置为电流源模式的时候，输出正弦波会出问题，如下图：

红色圈中的位置就是，受影响的波形。经查证，该问题不是由数据丢失引起，而是从ads1294r读取出来以后就是这个样子。

但是当我把VLEAD_OFF_EN设置为上下拉模式后，红色圈中的问题就没有再次出现。但是使用“上下拉模式”以后，导联脱落的

灵敏度太高，当跟皮肤接触稍微不好，就会穿出导联脱落数据，我更改导联脱落灵敏度到最小也不起作用。同时，若是设置为

上下拉模式后，我们的产品的输入阻抗也不如使用电流源模式。但是使用电流源模式就会出现上图中红圈标注的问题。

注：我们的产品是通过cc2541的spi口采集ads1294r的数据，发送到手机端显示。设计中我们只使用ads1294r的第二通道采集心电，其他通道关闭。

以下是我对ads1294r的寄存器设置。

ads1x94_write_reg(ADS1X94_REG_CONFIG1, get_sampleRate(sampleRate));//连读模式，采样率250 //0X46

ads1x94_write_reg(ADS1X94_REG_CONFIG2, 0x37);//37（用于配置测试信号生成）

ads1x94_write_reg(ADS1X94_REG_CONFIG3, 0xCC);//CC（内部参考+2.4V+RLDREF(AVDD-AVSS)/2+RLD buffer允许+RLD检测允许）

//lead_off detection mode 必须设置为上下拉模式，电流源模式会对采集的波形造成影响
ads1x94_write_reg(ADS1X94_REG_LOFF, 0x03);

            ads1x94_write_reg(ADS1X94_REG_CH1SET,       0x81);//关闭通道
            ads1x94_write_reg(ADS1X94_REG_CH2SET,       0x00);//6倍增益，正常导联输入 //60
            ads1x94_write_reg(ADS1X94_REG_CH3SET,       0x81);
            ads1x94_write_reg(ADS1X94_REG_CH4SET,       0x81);//关闭通道

ads1x94_write_reg(ADS1X94_REG_RLD_SENSP, 0x02);//使用二通道
ads1x94_write_reg(ADS1X94_REG_RLD_SENSN, 0x02);

ads1x94_write_reg(ADS1X94_REG_LOFF_SENSP, 0x02);//使用二通道
ads1x94_write_reg(ADS1X94_REG_LOFF_SENSN, 0x02);

ads1x94_write_reg(ADS1X94_REG_CONFIG4, 0x02);//02

LOFF寄存器的说民如下图：