ADS1274采样数据波动太大问题

TI工程师，您好！

      我司产品用到ADS1274芯片，参考电压2.5V，模式为高精度，FCLK为500K，采样率大概为1K，测量我们的差分信号电压及参考电压波动不超过200uV，使用16位的数据格式输出。

1.  按照参考电压2.5V，16位的数据输出格式，1mv的电压应该大概代表26个数据，但是我们采集100个数值的最大最小值差距60，每100个数据进行平均求值，10秒内数值波动在10个数左右。

2. 将2.2nF的COG电容短路，测得的100个数据波动最大最小值在5个数之间。

使用的是STM32与采样芯片连接，我们1ms就要输出一次采样后的平均值，但是目前结果波动太大，不知道是硬件原因，还是软件采用100个数据太少，因为我们时间有要求，所以采样不能超过1ms。

请帮忙分析我们数据波动太大可能的原因。

另外，请问硬件上CLDdiv这个pin脚是否可以直接连到3.3V？还有目前我们16位精度基本可以满足的的情况下，能否更换为ADS1174？会不会ADS1174的实际精度变为12位呢？

对于 16 位精度下. 采集100个数值的最大最小值差距60, 已经是相当高的精度了. (低于 250uV 噪声峰峰值)

要想进一步得到提升, 降噪去纹波和pcb 设计上要下很大的功夫了

16位精度下，AD芯片参考电压2.5V，1mV代表26个数，60个数算出来是接近3mV的。 但是我们用5位精度的万用表测试变化在200uV之内，按照这个来算的话，最大最小值应该在10个数之内吧。

你好，16位精度下，AD芯片参考电压2.5V，1mV应该代表26个数，60个数算出来是接近3mV的。为什么你说的60个差值是低于250uV的噪声啊？