数据转换芯片的数据有效信号（DVALID）问题

正在使用TI的数据转换芯片ddc112U，需要将芯片控制在非连续模式下工作。附件是使用的时序图，时序图上方的数字的单位是芯片系统时钟CLK的周期，例如600则代表相应高、低电平持续的时间为600个系统时钟CLK的周期。目前系统时钟CLK=10MHz，则一个CLK周期为0.1us（对应某一侧的积分器积分时间是60us）。使用示波器检查PCB板上的CONV信号时序参数，与附件所描述的参数一致，同时也检查过CONV的切换时刻与CLK上升沿的同步大约在1ns的范围内，但是观察不到芯片给出数据有效信号（/DVALID），示波器测量/DVALID信号一直为高。

（1）请TI的工程师确认一下，用这个时序来驱动DDC112U以使其工作在非连续模式下，是否正确？

（2）如果时序正确，能够使DDC112U工作在非连续模式，那么芯片不输出数据有效信号（/DVALID）的原因可能有哪些？

（3）TEST管脚应如何处理？正常使用时，该芯片的TEST管脚直接接地呢、还是由MCU的一个I/O来控制？

谢谢！

问题（1）和问题（2）请TI的工程师确认一下？这个时序是按照datasheet上的非连续时序图编程生成的，能不能使ddc112进入非连续模式？如果芯片能进入非连续模式工作，为什么数据有效指示位DVALID不变低？