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ADS1118的PGA对AD采集值的影响

时间:10-02 整理:3721RD 点击:

        完全按照手册《Precision Thermocouple Measurement with the ADS1118》和《Ultra-Small, Low-Power, SPI-Compatible, 16-Bit ADC and Temp Sensor w/ Int Ref》描述制作了电路板并写了程序。

        问题现象:

        PGA为16倍放大时,信号发生器给固定mV值,用示波器观察SPI的Dout,D15-D9很稳定,D8-D0变化很大;

        PGA为8倍放大时,信号发生器给固定mV值,用示波器观察SPI的Dout,D15-D7很稳定,D6-D0变化很大;

        PGA为8倍放大时,信号发生器给固定mV值,用示波器观察SPI的Dout,D15-D5很稳定,D4-D0变化很大。

        MCU输出信号的波动与上述各个放大倍数下采集值的波动情况能对应的上:用16倍放大时,波动最大,用2倍放大时相对好一些。

        因为我没有买ADS1118EVM。我的问题是:用TI的评估板ADS1118EVM做上面同样的测试,结果是不是和我描述的一样,因为我看评估板所用电路和手册上的也是一样的——我是严格按手册上描述加工的实验板。

        如果用评估板做的上述测试比我的结果要好,那么,自己制作ADS1118的实验板,除了按照手册上说的进行,还需要注意些什么。

Hi HaiTao,

        从你描述的现象我们可以得到的结论是系统噪声随着PGA的增益设置近乎线性增长,因此其主要噪声来源应该是从输入通道的外部引入,并由PGA放大而成的。

        我这边没有现成的EVM板测试,但从某个帖子 http://e2e.ti.com/support/data_converters/precision_data_converters/f/73/t/226719.aspx 来看,即使在860SPS下,其摆幅也只不过在6LSB左右。你可以检查下信号发生器本身的噪声大小, 并且依照《Precision Thermocouple Measurement with the ADS1118》第4页中的方法优化下滤波器,看看是否有所改善。

        谢谢提供相关的线索,不过我还是希望等到拥有EVM的人回复上述测试数据后,再结束这个问题。

        再次感谢。

        按照答案和其中连接所述,怀疑该问题可能与采样率有关,原有采样率为860SPS,在程序中调整为8SPS,同时放大倍数改为16倍。前面所述问题只是在D1-D0位出现,测量结果符合要求。由此,按照手册制作电路板不再需要进行其他优化。不过,关于采样率与测量结果波动之间的关系,还望哪位能抽时间详述。

        再次感谢。

你好,我们公司用你们的TI的ADS1118测量0-5V以及4-20mA,效果是测量值在毫伏级会很大的跳动,以及测出来的误差也有差不多10mv的误差,求帮忙解决一下,谢谢!

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