ADS1256测量误差很大
各位专家：
我目前在使用ADS1256，实测结果显示误差很到，输入模拟电压值 = 2.5000V，AD实际采集值 = 2.5320V， 相差约32mV；在其它几点测量，误差也较大。
电路图在附件中。不知道是不是因为没有设置好自校准参数？请专家帮忙分析原因，谢谢。
程序代码如下：
延时子程序：
void delay_12clk(void)
{ unsigned char i;
for(i=0;i<24;i++) ;
}
写寄存器子程序：
static void write_register(unsigned char reg,unsigned char wdata)
{
SPI1_send(WREG|reg); //选择写入寄存器
SPI1_send(0x00); //写入1个寄存器
SPI1_send(wdata); //写入数据
}
读寄存器子程序：
static unsigned char read_register(unsigned char reg)
{
static unsigned char x;
while(ADRDYB); //DRDY信号低时才能读寄存器
SPI1_send(RREG|reg); //选择写入寄存器
SPI1_send(0x00); //写入1个寄存器
delay_10us(); //延时10us 20130413添加
delay_10us(); //延时10us 20130413添加
x = SPI1_TranByte(0xFF); //读出寄存器值
return (x);
}
读ADS1256测量值程序：
unsigned long read_data()
{
unsigned char rx_dat[4]; long x;
while(ADRDYB);
rx_dat[0] = SPI1_TranByte(0xFF);
rx_dat[1] = SPI1_TranByte(0xFF);
rx_dat[2] = SPI1_TranByte(0xFF);
x = (long)rx_dat[0]*65536+(long)rx_dat[1]*256 +(long)rx_dat[2];
return (x);
}
初始化ADS1256子程序：
void INIT_ADS1256(void)
{
CS_SPI1 = 0; //选通SPI0
delay_100us(); //延时100us
while( ADRDYB); //20130417添加
SPI1_send(RESET); //复位 20130313
write_register(STATUS,0x06); //输出高位数据在前
write_register(MUX, 0x18); //MUX寄存器为默认值
write_register(ADCON, 0x20); //ADCON寄存器为默认值
write_register(DRATE,0xa1); // 1000sps 采样率
write_register(IO,0x00);
write_register(OFC0,0x00);
write_register(OFC1,0x12);
write_register(OFC2,0x02);
SPI1_send(SELFCAL);
delay_2us();
delay_2us();
delay_2us();
delay_2us();
}
ADS1256测试子程序：
void ADS1256_test(unsigned char *ADS1256_data_point)
{
unsigned long v = 0;
unsigned char i = 0;
CS_SPI1 = 0;
SPI1_send(SELFCAL);
delay_2us();
delay_2us();
delay_2us();
delay_2us();
while(ADRDYB); //DRDY信号低时才能读寄存器
write_register(MUX,0x38); //选择#3 channel
SPI1_send(SELFCAL);
SPI1_send(SELFOCAL);
SPI1_send(SYNC); //启动转换
delay_12clk(); //延时12clk
SPI1_send(WAKEUP);
delay_12clk(); //延时12clk
SPI1_send(SELFOCAL);
SPI1_send(RDATA);
delay_12clk(); //延时12clk
v = read_data();
*ADS1256_data_point = ((v & 0x00FF0000) >> 16);
++ADS1256_data_point;
*ADS1256_data_point = ((v & 0x0000FF00) >> 8);
++ADS1256_data_point;
*ADS1256_data_point = ((v & 0x000000FF) );
}
需要说明一下，在程序中，将偏移量校准寄存器 OFC0 ~ OFC2 设置值都不起作用
请问TI专家，怎样进行ADS1256的校准？
请教TI专家：
电路中ADS1256的晶体为10MHz，对转换精度有何影响？
加我QQ吧，我也在做这个遇到点问题，可以讨论下，441380244
您好，您需要在每一次配置完参数后进行一次自校准，而且，自校准是不需要您设置什么参数的，只需启动，并等待校准完成后即可。
另外，如果您的信号输入阻抗很高，建议您开启缓冲器，并注意合适的共模输入范围。
我现在是将模拟输入口连接成单端的方式，不是差分的。请问TI专家，2.5V参考源处串接的49.9Ω电阻需要去除吗？
另外，AINCOM引脚需要悬空吗？我目前是将其连接到地的。
不知道您使用的什么基准芯片，有没有驱动，建议去掉该电阻。然后AINCOM是接地的。
基准芯片为：ADR5041B 精度：0.1% 用MCP6031做射随器，对其进行了驱动. 推荐电路中基准源的串接49.9Ω电阻已经去除，但测量值还是不准确。
您好，您在每次配置好参数之后有没有做自校准呢？
然后你的配置情况是怎么样的，增益？缓冲？转换速度？
每次只要有寄存器操作(配置参数)，就会进行自校准。
增益：PGA = 1
缓冲：打开和关闭都试过
转换速度：5 sps ----7500 sps 都试过
实测精度任然不准确。
请教TI专家：
我现在的ADS1256的测量精度约为1-2mV,但是当输入高于3.8V时，输出值就一直为3.8V了（开启了缓冲器），
如果不开缓冲器，则当输入高于4.2V时，输出就变为0了。
而我的实际测量范围约为：0.5V ---- 4.5V
请教一下，如何避免这种情况？
你好，想咨询下，你之前的问题是怎么解决的？我的电路也出现了测量值不准的情况！该怎么办呢？
您好，ADS1256的基准输入电压是2.6V，因此你可以改用2.5V的基准再次测试。
你好，想咨询下，你之前的问题是怎么解决的？我的电路也出现了测量值不准的情况！该怎么办呢？
数字量最大8388607，一般情况下只有高四位8388是稳定，后面的607都不稳定，乱跳
我的设置时PGA=1,基准2V,不使用缓冲，启用自动校正
后面几位跳很正常啊，不过这么好的ADC 后面9位多在跳就就有点多了。你需要确认一下一下几点：
（1）首先看ADC是否工作正常。直接ADC输入端引脚短接，看看跳动是不是还是这么大.
(2) 使用的基准是不是够稳？！可以看看datasheet
（3）输入信号本身是不是本来就不稳。
现在使用REF3125做基准，ref=2.5V，采样频率2.5SPS，放大1倍，使用输入缓冲，直接测量的是基准电压
软件中没有滤波
为何实际采集仍然不稳定，有偏差呢？达不到22位分辨率哦，那里的问题呢？
图中X是采集次数，Y是数字量转换后的电压值！
您好，首先从低噪上来看，您的低噪大概是1uV峰峰值，这个是对的，符合datasheet，您的数据上有一个低频的脉动，这个很有可能是温度变化引起的，温度变化会产生温漂现象和热电偶现象，所以建议您把电路放在一个温度相对恒定的环境，空气流动小的地方再次测试，必要的话放在恒温箱中测试。
您好，问一个题外的问题，单极性ADC和双极性ADC是根据所能接受的模拟信号电压极性区别的吗
您好，在绝大多数情况下不是这样区分的，很多ADC定义单双极性主要是以同相输入端相对反相输入端而言的，即同相端大于反相端认为正，反正认为负的，但其实信号对地而言都是正的。当然也有极少数的真双极型adc，例如ADS1248，ADS1282，这些ADC可以双电源供电，可以输入真正的正负信号。