請教如何測試高精度ADC的線性度

目前有待測18位精度ADC，需要測試其線性（INL,DNL），由於內置PGA倍數=2/128，VREF=1V，共模點又在1.2V左右，所以單個差分輸入電壓只能在0.8V~1.8V之間。 原本方案是利用高精度20-bit DAC 輸出0~5V ，在利用差分放大器THS4130調節電阻比例輸出等比例電壓0.8~1.8V，然後給待測ADC採集，并輸出數據并分析。感覺從DAC到THS4130時，精度并不能保持在20bit，中間有DAC本身的線性誤差和THS4130的轉換誤差累加，精度損失很大。 請教其他有效的方式。

INL/DNL很难测，

您提到的20bit DAC，精度不能保持在20bit是正常的，20bit只是一个分辨率，有效位数其实是一个AC参数，INL/DNL只是DC参数。

DAC相对ADC，INL/DNL的影响是可以计算的，请参考附件ppt。谢谢！