ADC的采集端串联磁珠

网友 shimx 在21icBBS  的 TI 模拟技术 论坛问以下问题久未解决:

http://bbs.21ic.com/icview-608046-1-1.html

为解决EMI干扰，ADC的采集端串联了磁珠, 这种方法是否有效, 会对电路性能产生影响吗？

首先你要确定干扰源，例如电源造成的还是其他信号的窜扰。然后确定噪声的类型以及频率。才可以确定如何设计滤波器以及还是通过其他方法例如PCB layout的方法去消除EMI。

我觉得加瞬态抑制管和0欧电阻可能会更好

一般来说，为了过EMI/EMC测试，可以加上磁珠/共模电感/扼流圈等。

对电路的性能是否有影响取决于：

1、采样的信号的频率

2、ADC的类型，驱动电路