ADS1255　DOUT输出引脚信号有拖尾是什么原因

急问专家：我的ADS1255数字输出引脚信号有拖尾，导致数据读数不正确。请问这是由什么原因造成的？（DOUT引脚本来通过一个47R的电阻连接至隔离器，现在把这个电阻断开即外电路什么也没接，其现象是一样的。做了几个板子都是一样的现象。时钟8.192M，采样率4000SPS，供电模拟5V，数字3.3V）

请问你描述的拖尾现场是什么样的，能否用示波器截一下图。

数字接口的问题，一般来源于阻抗匹配，时序和建立保持时间。

ADS1255的DOUT是在SCLK的上升沿输出数据，MCU要在SCLK的下降沿读取数据。

我用ADS1255做数据采集器，采用8.192M外部时钟输入，4000SPS输出采样率，PGA＝1，关闭片内输入缓冲，disable CLKOUT，其余是默认设置。控制器是S3c2440，linux操作系统。开机设置前读11个寄存器内容为

31　01　20　F0　E1　28　00　00　B6　09　45

经上述设置后再读11个寄存器内容为

31　01　00　C0　E0　28　00　00　B6　09　45

是正确的。但采集时在无模拟输入（如电路图所示）时经常在1秒内（程序以1秒数据为1帧）有一个数据出现异常，且这个数据大多数情况下其高字节跟低字节是相同的而中间字节是0xFF，比如是0x31FF31或0x26FF26或0x7FF07等；而且这个异常数据出现的位置相对稳定，比如基本出现在1帧中的0.1秒到0.25秒之间。当输入接正弦信号测试时也同样在正弦波形上叠加有这个异常的数。

电路图和DOUT示波器截图以及采集波形见附件。

谢谢！

现在在DOUT引脚上加了一个8.2k的下拉电阻接地，现在没有拖尾现象了，但读出的数据仍不对！也就是不时在一秒内有一个异常的数

看了你的电路图，问题可能来源于你加的这个隔离器。据我所知，ADuM的隔离器是电磁的，EMI不是很好。可以试试TI的电容式隔离器。

你试着把隔离器拆掉，做一下试验。问题是不是还存在？

另外CLK信号在隔离器中离信号线可能有些近。

如果可以，能抓到数据错误时的SPI波型最好分析。另外，你的SPI总线上，还有其他器件没？

我也这样想过可能是隔离器的问题，所以把DIN引脚直接用导线跨接在S3C2440的SPI输入引脚上（连接ADuM隔离器的两个电阻分别断开了），同时把两个地也用导线连接了，实验结果没有什么改善。

另外也怀疑过是SPI总线驱动的问题，更改过各种模式，波特率也改过，都没有什么效果。最后干脆不用SPI总线而用高、低电平来模拟时序，其结果都是一样的，即还是有异常数据的存在。

SPI总线上只有一片ADS1255（通过ADuM隔离器），没有其它器件。TI的电容隔离器有哪些型号？

我也这样想过可能是隔离器的问题，所以把DOUT引脚直接用导线跨接在S3C2440的SPI输入引脚上（连接ADuM隔离器的两个电阻分别断开了），同时把两个地也用导线连接了，实验结果没有什么改善。

另外也怀疑过是SPI总线驱动的问题，更改过各种模式，波特率也改过，都没有什么效果。最后干脆不用SPI总线而用高、低电平来模拟时序，其结果都是一样的，即还是有异常数据的存在。

SPI总线上只有一片ADS1255（通过ADuM隔离器），没有其它器件。TI的电容隔离器有哪些型号？

而且异常数据在1秒内基本只有1个，出现在时间位置还相对固定!已经检查过驱动层和应用层程序的数据缓冲区，觉得没什么问题（缓冲区数组：cData[100][12000]）。

你再做一个实验，把MCU附近的地用一根粗线与ADS1255的数字地引脚。

TI的ISO7241就是非常适合用于SPI总线的隔离芯片。它是三同向一反向的。

其它的，请参照http://www.ti.com/paramsearch/docs/parametricsearch.tsp?family=analog&familyId=3121&uiTemplateId=NODE_STRY_PGE_T

你的程序在出现问题的那段时间，还有没有处理别的数据什么的？

还有一个办法，把代码里的别的功能先都屏敝掉，只让ARM跑测试ADC的程序，试一下。

现在确认是芯片的问题！原因如下： （在做如下实验时ADS1255到CPU是跳线直连的，即去掉了ADuM隔离器，两个地线也用导线连接了）

1、在4000采样时，应用程序未做任何处理，只做两件事：（1）直接把从底层读出的数据实时（从网口）转发，监控波形有异常；（2）把数据存在本地，之后再取出看，画出的波形一样有异常，且跟实时传输的波形一致。

2、在4000采样时，应用程序只读取前面600字节（包括异常数据出现的那段，这样做是为了减少读取时间，看是不是读数时干扰了底层的中断响应），但在应用程序中其余不变，仍按4000采样来处理数据（即每帧的601－12000这段数据值是0），异常数据仍会出现。

3、在4000采样时，把DOUT引脚断开，其余不变，此时监控波形只是一直线，幅度为0，不会出现异常数据，说明异常数据不是出现在程序中。

4、现在在底层更改采样率，时钟8.192M不变，把DRATE(03H)寄存器值分别改为B0（在7.68M时钟时当为2000SPS）、A1（在7.68M时钟时当为1000SPS），而其它不变，即底层的数组及应用程序仍作为4000来读取数据（此时一个数组中前约6000或约3000个字节是数据，后面部分数据是0，但一个数组总字节数12000保持不变），这时就不会出现那个异常数据了。

所以综上所述，问题不是出在硬件及程序上，而是芯片，且只在4000采样（DRATE寄存器值设为C0）时出现这个异常的数。请问该怎样解决？谢谢！

你的芯片是从什么渠道购买的？申请的样片，还是在TI的授权代理商那买的？