ADS850采样出现椒盐噪声

 参考电压源为5V，改变输入电压，测量ADC直流性能。之前做过一版，性能满足要求，略微改变后，发现采样数据存在异常点，类似图像处理中的椒盐噪声，准确来说是盐噪声，在14-bit采样数据下，噪声点的值比均值大40。形如附件。

不知道该问题是如何产生的？谢谢！

“略微改变”是指怎样改变？最好能把前后两个电路图发上来，一边解答。另外，那张柱状图的横坐标和纵坐标各代表什么？噪声点的值比均值大40怎么理解？噪声点的值，均值各是怎么算出来的？

柱状图为采样值直方图，横坐标为采样值，纵坐标为频数。

由于输入为直流电平，对于14bit ADC，其采样值应该分布在+-4LSB附近，而异常值偏离该区域，偏大40LSB。

略微改变指以前AGND和DGND分开后再用0欧电阻连接，而现在是分开后，在原来区域直接铺地用铜皮连接。

从手册上看，ADS850没有分数字地和模拟地，你指的模拟地和数字地是系统的地线？

用铜皮连接模拟地和数字地有风险，这样等同于模拟电路和数字电路共地了，数字电路的噪声可以直接耦合到模拟电路的电源上，造成的干扰比较大。0欧姆电阻只是给两个地线提供一个相等的电势，但是并不会传电流，从而数字电路的噪声都由数字电源吸收，不会影响模拟电源。

对，是数字和模拟系统的分别地。

用铜皮连接可以降低连接处的ESR和ESL，在高速采样的时候，降低两个地的电势差。

估计可能我的layout布局有点小问题，导致二者电流环路耦合了。

另外这个噪声点也比较奇怪，已上图为例，信号均值在15373附近，而噪声点一直是15408，没有噪声的随机特性。

如果改变ADC输入，也会出现噪声点采样值固定的情况，这点比较困惑。

看看能不能把两个地分开，然后再串个0欧姆吧。如果单纯为了降低电势差，0欧姆应该也可以啊。

处在15408的噪声点，出现的频次很低。从你的图上看，信号应该是采样点的期望，就是各采样点的加权平均值；噪声应该是各采样点的方差。

超过20MSPS的ADC地线一般是不推荐分割的，寄生电感引起的压降很大。所以这个我尝试了下，发现不分割对layout要求较高。