微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 硬件电路设计 > TI模拟硬件电路设计 > ADS1256造成采样值尖峰

ADS1256造成采样值尖峰

时间:10-02 整理:3721RD 点击:

我使用单片机连接ADS1256,采样率300kS/s,在PGA=1时,获得采样值曲线正常,可是将ADS1256内部PGA设置为64时(已经下发了自校准指令F0),采样值曲线却随机的出现一些大概500uV~1mV的脉冲尖峰。请专家们分析分析,我的问题出在什么地方?谢谢~

写错了,采样率是30k。我还发现,当降低采样率时,AD内部的数字滤波能够把这个尖峰滤的更小些,但是还是不明白是什么原因造成的。

此尖峰是否随着增益的变化而变化?输入信号来源特性是什么?请考虑是否有噪声被放大的情况。

经过反复试验,这个尖峰仅仅出现在PGA=32和64的时候,向上突出的尖和向下突出的尖差值(峰峰值)居然是一样的,只是OFFSET有点偏差。我并未接入特殊测试信号,只是用一颗电阻(20k)将AIN接地。让我感到不解的是,PGA=16非常正常,可是到32和64,尖峰就突然出现。

是自己的板子么?buffer打开还是关闭?是否有Calibration?建议加实际信号看下。采样率越高有效位数越低是delta-sigma ADC的特性.另外你要参考手册12页的Input Referred Noise with Buffer On

是自己的板子。buffer打开,每一次修改设置都有self-calibration。刚才加入了100mVDC的信号,同样会时不时出现这个1mV的尖叠加在100mVDC上,和不加信号时一样。刚才去看了一下手册12页,这个尖还是超出指标了。回过头来想,这个尖出现频率不高,不是杂散的噪声,连续采样1秒,30k数据里面,能有8~10这样的异常值。

开始我怀疑是通讯异常造成数据错误,后来发现降低采样率之后,这个尖幅度变小,规律和AD内部的数字滤波刚好对应上,所以才认为是AD内部和模拟输入前端的问题。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top