ONET8551T老化问题

尊敬的TI工程师：您好！

我们目前用TI的ONET8551T生产光通讯模块， burn-in完后TIA有接近0.3%的失效。

我们TO burn-in的条件如下：100C环境下，TIA加3.3V电压，24hr

请帮忙确认我们公司QA同事询问的如下问题：

1. 可靠性报告（失效率及工作寿命）

2. 此款TIA是否需要做burn-in，如果需要，TI推荐的burn-in条件是？

3. 早期失效率 

以上，非常感谢！

这个问题可能需要咨询一下QA team，因为没有可靠性报告或者失效率相关报告可参考呢。

就我的理解，是不需要burn-in的。