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分享-运放参数的测试方法

时间:10-02 整理:3721RD 点击:

       在论坛里,有工程师提到过关于运放参数的测试方法。运算参数的详细解释和分析【TI FAE 分享】系列博文里也零零星星提到过一些运放参数的测试方法,但不大系统。下面给大家分享一系列的运放测试方法论文。希望对大家有帮助,另外,如果大家感兴趣,我们可以把这些论文翻译整理出来。并制作测试电路实测一下。

The basics of testing op amps, part 1: Circuits test key op-amp parameters

The basics of testing op amps, part 2:Test op amps for input bias current

The basics of testing op amps, part 3:Configurable circuit tests op amps

The basics of testing op amps, part 4:Testing op amps requires stable test loops

我们将根据回贴情况决定是否翻译整理。

谢谢!最好翻译成册,供大家阅读讨论。

有中文是最好的,能够加上Ti工程师自己的注解就更好了

大家看看中文版的....

7271.The basics of testing op amps, part 1_CH.docx

1184.The basics of testing op amps, part 2_CH.docx

0601.The basics of testing op amps, part 3_CH.docx

8664.The basics of testing op amps, part 4_CH.DOCX

希望可以进行翻译,方便研究和讨论运放测试方法。

运放是模拟电路的最基础元件,运放懂了,很多都可以触类旁通。

谢谢楼主分享

thank you for sharing these.

您好,谢谢您的分享,我这里有点疑惑,希望您能够帮我解决一下,关于part4部分的稳定测试环路,您不能把第一类补偿法解释的再详细一点,特别是关于图五的绘制和公式一的解释。麻烦您您不能做一个excel分享给我们,让我们学习一下。以前没有做过这方面。谢谢您啦。辛苦啦。

非常棒的分享,感谢TI工程师的无私分享,学习了

现在这个有详细的解释没,分享下呗,我的邮箱 ligx@chipsea.com

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