微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 硬件电路设计 > TI模拟硬件电路设计 > 运放稳定性问题?

运放稳定性问题?

时间:10-02 整理:3721RD 点击:

   在运放稳定性分析中,如果在伯德图中Aol与贝塔(反馈系数的倒数)交点即fcl频率前的相位低于相位裕度所规定的45度但在fcl这点相位裕度要大于45度时,这时候运放电路仍然稳定吗?

你好,在整个环路增益带宽内,都要实现相位裕量不小于45 degree Cel.

但是这个如果很是靠近,电路输出功率波动小,应该是没有什么问题。

我觉得45只是一种判断标准的参考。

TI放大器稳定性分析(合集)中有最说明,可以参考下。

如果有开环增益和闭环曲线图,只需要观察交点处两条曲线斜率差,如果小于40db/dec斜率差则不稳定。等于40db/dec是临界稳定。

 

     你好,谢谢你的解答,我明白了这个问题,我也是在看这本书的过程中而提出这个问题的,是从下面附图中发现的。不过我通过后面的看书中在“R0何时转变成Z0”学习中发现CMOS集成运放中的输出电阻R0变成Z0这点我看的很迷糊不懂为什么用COMS作为射极跟随器是会有一个容性输出阻抗在里头而双极性晶体管中就不包含这个容性输出阻抗在里头。你有什么什么资料可以参考学习下吗?

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top