使用PGA309时，在测试模式下的一些问题。

    最近在使用PGA309，采用的是使用手册上的参考设计，碰到了一些问题。如下：

1.我将TEST引脚接至高电平时，芯片进入测试模式。手册上说Vout被使能，可是我的Vout引脚无论接不接输入，都为5V，请问是为什么？

2.我将TEST引脚接至高电平时，对寄存器的读命令时好时坏。好的时候读出的数是对的，不好的时候读出寄存器的值都为0x5555，请问是为什么？

3.寄存器7写进去了值，读时却显示0x0000，请问是为什么？

正常工作状态下，TEST引脚需要接GND啊。

  你好。你的意思是我想修改寄存器的值的时候将TEST接高，修改好了就接回GND？我试过，接在GND的时候，也能修改寄存器的值，那TEST引脚设置还有什么意义？而且我接在GND的时候好像Vout始终为0.请问是怎么回事？

  你好。你的意思是我想修改寄存器的值的时候将TEST接高，修改好了就接回GND？我试过，接在GND的时候，也能修改寄存器的值，那TEST引脚设置还有什么意义？而且我接在GND的时候好像Vout始终为0.请问是怎么回事？