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PGA281\PGA280的长期稳定性问题

时间:10-02 整理:3721RD 点击:

昨天很兴奋发现了PGA281,温飘、INL都很不错的样子

仔细看了DATASHEET,发现长期稳定性貌似给的只是offset的漂移量,想问问有没有PGA281、PGA280  gain的长期指标呢?

谢谢

PS:TI高精度设计那几篇文章不错!除了部分翻译貌似有些问题:P

增益的稳定性指标都在第八页呢

那个是温飘...我要的是增益的long term drift

如果增益没有long term drift指标,强调offset的long term drift没什么意义吧...

第八页

图7.图8.图9.图11.图12.是增益误差的分布量吧

图10是温飘量

我想获得的是增益的Long term drift数据

没有增益的长期稳定度数据,强调offset的长期稳定性没什么意义吧...

顶一下:)

貌似手册上真没有写增益的长期稳定度。

说说我的理解:因为半导体老化及与外部空气等接触的原因,必然是造成失调和增益变化的,一般而言,失调部分没有反馈来补偿,而增益级靠反馈实现,即增益电阻(当然IC内部靠PN结等实现)的变化经过反馈环路后,其老化的影响大为减弱,所以失调长期稳定性的影响要大于增益长期稳定性的影响,所以多数器件只给出失调随时间的变化情况。基于这样的分析,如果失调变化远大于增益变化,那给出增益随时间变化的意义也就不大了。

而PGA281使用的稳零技术相当于在失调处也引入了反馈补偿,所以削弱了失调长期变化的范围。

没有回答你的问题,仅仅是我的分析,供参考。

很感谢Joel的分析,我不懂芯片设计,被你扫了一下盲,很爽 :D

我这里做的是标准电能表,测的是交流信号,所以直流失调的长期稳定性我这里倒是不太关心

以前公司改增益的时候大多数是改磁性元件的比例(改互感器的匝比)实现的,磁性元件的交流增益长期稳定性是久经考验的,拆过国外的标准表,高精度的0.01级都是通过改磁性元件实现的,等级低的>0.05级会使用PGA。(这里0.01级是要求整机年变差小于正负0.01%,其他等级同理)

现在就比较困惑到底PGA的增益长期稳定性如何,因为光是电阻的长期稳定性就不是这么容易做,像VISHAY最好的箔电阻是几年几PPM,但一个电阻的价格就顶几个PGA芯片了。你说的增益经过反馈环路后老化的影响大为减弱,这个我不是太理解,增益比例至少得两个增益电阻决定吧,假设其中一个电阻老化后阻值变了,反馈环路能减弱它对增益的影响?

即使测的是直流信号,增益的稳定性应该也比较重要吧,因为有些情况下,失调还可以通过短接输入端测出失调量,然后修正回去,但增益就没那么容易处理了吧

我想了解的是:

像PGA281,AD8253....等直接可控增益的PGA,和需要外接电阻的PGA + 高稳箔电阻的放大器,以及用运放 + 高稳箔电阻组成的放大器,这三者之间,到底增益的长期稳定性谁更好?相差大概多远?

我是前几天搜“PGA 增益 长期稳定性”的时候搜到PGA281的,虽然看到长期稳定的是失调,但也让人买些回来准备做做试验,但长期稳定性不是这么容易测的,所以希望TI能有官方数据参考参考。

各种盲,求扫  :D

顶!

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