微带线阻抗测试的问题
（1）TDR测试法
这种测试方法测试可以测试出一段连续的阻抗出来。但是我没看到有关于频率的概念在里面。请问这个有人清楚吗?
（2）smith圆阻抗发
这种测试方法只是可以测试某一个频率点的阻抗?不同频率点就有不同的smith圆图?
期待各位前辈释疑，谢谢。
TDR:Time-Domain Reflectometry ，通过时域方法来量测，肯定看不到频率了；Smith:通过频域的方法来量测，在Smith原图上应该体现为一段圆弧线。百度内有大把关于阻抗测试的文章，可以多看看。
TDR是时域，smith是频域
非常感谢您的解答。
那我再请教一下，因为阻抗在低频和高频时是有一定的区别的，那用TDR测试的结果和频率无关，那就是测试结果不是很准确了?
TDR是时域，但是也可以知道频率（因为 t＝1/f、f＝1/t）、TDR最早的应用可以推导至有线电视建设的时候，为了知道缆线断在哪里！
Smith是频域但是它所能看到的不只是阻抗这么简单，（因为 R±Jw、其中w＝2*pi*frequency)
是没有直观的看到频率，不是和频率无关，另外精度的话，看你工作的频率多高了，10GHz以上，个人建议采用smith法。
解释的很好
TDR 是實域反射的結果，也就是你看到的是線上不同點的阻抗分佈，每當有結構變化時，波經過結構不連續點所產生的反射會不同造成TDR阻抗會有變化，例如: 轉角、線寬變化、線距變化等等，看TDR可以看出結構對於阻抗的變化。
Smith圖看的是頻域，也就是整體結構在不同頻率下的饋入端口阻抗值，看這個可以知道在不同頻率時的阻抗變化。
兩種阻抗的應用不同，要看你需要哪方面的阻抗去決定。
非常感谢各位。
请教大家一下，TDR方法测试PCB板上阻抗的时候，我如果将PCB板上电让它工作起来，这个时候的测得的阻抗值有没有什么意义呢?或者说这种方法就不正确?
谢谢
阻抗测试时，被测器件应为无源器件。微带线是线性器件，其阻抗不随偏置变化而变化。不知为何要上电测量?
你好。我在测试的时候发现：上电和不上电测试得到的阻抗值有较大的变化。带电测试阻抗值较不带电测试值偏小。
不过没有找到什么测试的理论依据。