超级电容充放电实验曲线与理论误差太大

我的毕业设计是用a/d转换、单片机和上位机软件绘制超级电容充放电曲线，电路是这样的：

A/D转换接在超级电容两端。上位机软件绘制的结果如下图所示：

因为电容有内阻，内阻的分压会导致电压突降，通过压降值可以算出法拉电容的等效串联电阻。然后根据电容放电公式模拟理论曲线如下：

蓝线为分压后的曲线，现在的问题是实验曲线和理论曲线明显不一样，理论曲线更接近直线，实验数据曲率更大，不像是e指数下降的曲线。具体某一时刻的数据也对不上。还有十几天就答辩了，求分析下原因.

放电电阻太大，理论放电曲线是空载情况下，也就是说是电容充电完成后将电容断开电路连接。
这种测试方法，始终是不准确的，因为测试的时候测试电路需要接入超级电容，放电时  测试电路就相当于超级电容的放电电阻，这样会照常电容不断的通过一个等效电阻进行放电，故放电结果不等于理论结果。

我还是不太明白，能不能再解释解释。按我的理解，电容放电时应该是带负载来绘制放电曲线的，它的时间常数等于总的电阻乘以电容C。还有就是测试电路阻值问题，A/D转换之类的器件，理论上相当于电压表，对电路总电阻的影响可以忽略不计的。

不行滴  你测试电容的时候就不行的  我现在做的这个项目就是对电容进行测量，和你的一样的 。但是经过两个多月测试发现，测试电路对电容影响太大。设你的分压电阻为  R    电容为C   电容电压为U，者电容电荷为Q=UC       电阻中电流为I=R/U，Q=UC=IT，所以，只要你接电阻了，就会有电流，电流不一样，放电时间T不一样，你得到的曲线不一样。不信的话你改变电阻试一试。分压电阻取值的时候要取 兆欧或者几十兆欧 ，几百兆欧级别的，要不然光放电电流就几百微安，你算下一分钟应该下降多少