图中光耦可以用什么元器件代替

上面的图就3个部分：被检测电路、检测信号输出电路和信号采集电路。被检测电路中S1、S2、S3三个开关在不同的位置，信号采集电路采集的3个逻辑值都会不一样，这里就不具体分析了。目前这张图还有一个问题：被检测电路中的+24V_ZD受其他开关控制，电路中没有画出来。当S1、S3向下闭合，S2闭合时，信号采集电路中的+24V会通过光耦U1、U2的发光二极管串到被检测电路中影响+24V_ZD。请问有没有什么元器件代替信号采集电路中的光耦来规避这个问题?或者修改其他部分电路也可以实现?前提是被检测电路不能改动。

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