MLCC(片式多层陶瓷电容器)

MLCC是片式多层陶瓷电容器英文缩写.(Multi-layer ceramic capacitors)
一、瓷介的分类
　　陶瓷电容一般是以其温度系数作为主要分类。Class I - 一类陶瓷（超稳定）EIA称之为COG或NPO。工作温度范围 -55℃~+125℃，容量变化不超过±30ppm/℃。电容温度变化时，容值很稳定，被称作具有温度补偿功能，适用于要求容值在温度变化范围内稳定和高 Q值的线路以及各种谐振线路。
       Class II/III - 二/三类陶瓷（稳定）EIA标称的X7R表示温度下限为-55℃；上限温度为+125℃的工作温度范围内，容量最大的变化为  ±15%，Z5U、Y5V分别表示工作温度10~+85℃和-30~+85℃；容量最大变化为+22~-56%和30~82%，同属于二类陶瓷。优点是体积利用率高，即在外型尺寸相同时能提供更高的容值，适用于高容值和稳定性能要求不太高的线路。　
二、瓷介代号
    陶瓷介质的代号是按其陶瓷材料的温度特性来命名的。目前国际上通用美国EIA标准的叫法，用字母来表示。常用的几种陶瓷材料的含义如下：  
    Y5V：温度特性Y代表 －25℃；  5代表＋85℃；
            温度系数V代表 －80％ ～ ＋30％
    Z5U：温度特性Z代表 ＋10℃；  5代表＋85℃；
            温度系数U代表 －56％ ～ ＋22％
    X7R：温度特性X代表 －55℃；  7代表＋125℃
            温度系数R代表 ± 15％
    NP0：温度系数是30ppm/℃（-55℃～＋125℃）
三、一般电性能
1、介电常数
      不同介质的类别有不同的表现效果。环境因素，包括温度、电压、频率和时间（老化），对不同介质的电容有不同的影响。介质常数（K值）越高，稳定性能、可靠性能和耐用性能便越差。 现代多层陶瓷电容器介质最常用有以下三类。
? COG或NPO（超稳定） K值10~100
? X7R（稳定）K值2000~4000
? Y5V或Z5U（一般用途）K值5000~25000  
2、绝缘电阻（IR）
      即介质直流电阻， 通常测量方法是以额定电压将电容充电一分钟，电容充 电以后测量其漏电电流。 所施加的直流电压和初始充电时间之后的漏电流的比值为IR值， 这个数值为漏电流和绝缘电阻。
3、损耗（ＤＦ）和品质因数（Q）
      在外加电压作用下，单位时间内因发热而消耗的能量，叫电容器的损耗。理想的电容器把从电源中得到的能量，全部贮存在电容器有介质中，不发生任何形式的能量消耗， 事实上电容器在外加电压的作用下是要消耗能量的，介质漏电流，缓慢极化（电偶极矩在电场作用下发生偏转） ，内外电极金属部位的等效电阻都会消耗一部分能量，形成电容器的损耗。过高的电容器损耗会产生热量使电容器温度升高，造成电路工作状态不稳定，加速电容器的老化。
     电容器的好坏并不能单以电容器的消耗能量的多少来定论，因此，一般用电容器的损耗角正切来表示。 电容器的损耗角正切是指在一定频率的正弦电压作用下， 消耗在电阻上的有功功率和贮存在电容器中的无功功
率的比值。因此，其是一个无单位的量。即：
                                                                  Tgδ  ＝ 有功功率/无功功率
介质损耗同电容量一样，在实际使用中同温度、工作频率、电容器两端所加的电压有很大的关系。
4、耐电压（DWV）
    电容器的耐电压性能就是指电容器的陶瓷介质在工作状态中能够承受的最大电压，即击穿电压，也就是电容器的极限电压。

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