生产中的EOS通常产生于

　　1.电源(AC/DC) 干扰、电源杂讯和过电压。
　　2.由于测试程序切换（热切换）导致的瞬变电流/峰值/低频干扰。其过程持续时间可能是几微秒到几秒（也可能是几纳秒），很短的EOS 脉冲导致的损坏与ESD损坏相似。
　　3.闪电。
　　4.测试程序开关引起的瞬态/毛刺/短时脉冲波形干扰。
　　5.测试设计欠佳，例如，在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。再比如在对器件供电之前加入测试信号，或超过最大操作条件。
　　6.来自其它设备的脉冲信号干扰，即从其它装置发送的脉冲。
　　7.不恰当的工作步骤，工作流程不甚合理
　　8.接地点反跳（由于接地点不够导致电流快速转换引起高电压）防静电解决方案