微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 微波和射频技术 > CST学习交流 > 参数扫描时:如何绘制某一固定频点处S参数随参数变化的曲线

参数扫描时:如何绘制某一固定频点处S参数随参数变化的曲线

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
传送门:http://bbs.rfeda.cn/read.php?tid=92368
最近碰到几个网友询问 参数扫描时,如何绘制某一固定频点处S参数随参数变化的曲线?
其实在CST的后处理模版中为大家提供了这样的模版,具体操作流程如下:
1. 以标准喇叭天线为例,先需要扫描喇叭的张角 在5GHz处 的S参数变化,模型如下:
[attachment=62432]
2.  点击Home 选项卡下的Parameter Sweep,设置需要扫描的参数,并点击Result Template....
[attachment=62433]
3. 在后处理模版中,分别选择S-parameter 和S-parameter (0D)
[attachment=62434]
4. 在弹出的对话框中,只需要设置相应的频率,点击OK完成设置,开始仿真,设置过程如下:
[attachment=62435]
5. 仿真结束后在导航下的Tables中即可得到你想到的结果
[attachment=62436]
6. Mission Completed!

小编真犀利,顶一个


小编好人,学习一下

太好了,我找了好久了。



小编真犀利,顶一个

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top