CST电缆工作室表面电流图的意义

我在CST的CS工作室中导入一个带孔缝的金属腔体，腔体里面建立一根线缆，用平面波从腔体外照射，然后监测一个频率下的腔体表面电流图，我想问一下这个表面电流图的结果是仅仅线缆引入的干扰对腔体作用产生的表面电流，还是线缆的干扰加上外界场对腔体的合作用的结果?麻烦各位大神指导一下，不胜感激。

如果是线和场的合作用的话，结果似乎太小了，因为我用MS工作室单独仿腔体的表面电流，结果就比在CS中仿腔体中有线时的表面电流大很多。

能探讨哈吗?我最近也做这方面的研究

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你的线缆是如何激励的呢?

毫无疑问，肯定是两者叠加的作用

平面波耦合进去的

这个要看你选择的场耦合的形式来决定

是的，要看你是单向耦合还是双向耦合