在CST MS中如何计算金属箱的屏蔽效能？

在CST MS 中如何计算金属箱的屏蔽效能?我在金属腔内外均设置了电场探针，我如何运用得到的结果来计算屏蔽效能。MS 中没有后处理功能，而在DS中虽有后处理功能，可是无法将MS中的数据导入到DS中，请问大师，我该怎么做?

Ctrl+C,到DS中ctrl+V

能说的具体一点吗?复制MS的什么?数据?那里的数据?粘贴到DS的哪个地方?到results中?

哪位大师能帮我?

你在MS中如何得到探针上的电场强度呢?又是如何查看的呢?

我是点击outputs

,出现对话框

然后点击

，就仿真了，最后在Navigation Tree 中看结果，图如下

我如何利用Results中的结果来进行屏蔽效能计算，而且我需要再导入数据，将两组数据作比，才可得到屏蔽效能

双击results中的Frequency domain，就可以查看探针上的曲线了
然后ctrl+c复制，在DS的Result文件夹中新建个文件夹，然后Ctrl+V

我按照你说的做了，可是会出现下面的错误，这是怎么回事?

名字含有特殊字符。