电子产品可靠性与失效分析免费培训开始了!
时间:10-02
整理:3721RD
点击:
“电子产品失效分析与可靠性案例”技术研讨会的邀请函
值此IPFA2009国际集成电路与失效分析会议即将在中国召开之际,为响应业内各界朋友的强烈要求,满足电子产品生产与设计企业对产品质量及可靠性方面的需要、解决工程师遇到失效分析与可靠性问题时的疑点和盲区、打破理论与实际脱钩的窘境、达到失效现象与失效原因直接挂钩、提高产品可靠性的效果,我们特决定在全国组织举办此次“电子产品失效分析与可靠性案例”技术研讨会。
研讨会将特别邀请具有45年失效分析与材料科学经验的IPFA技术专家与教学经验丰富的讲师共同主持,通过讲解大量案例,帮助与会者了解电子元器件的失效分析与可靠性的技术手段。具体事宜通知如下:
一、主办单位:华碧检测(FALAB)苏州实验室;
协办单位:苏州中科集成电路设计中心;苏州市集成电路行业协会
二、培训地点、时间:
苏州专场:苏州工业园区国际科技园,1天,
详细请联系我
13732649024
0512-69170010-824