如何通过测量的结果修正仿真模型的参数？

如何通过测量的结果修正仿真模型的参数?
使用仪器一般容易测到S参数，那么通过测量到的S参数如何推导出介电常数与损耗角?
一般在推导这些数值方面应该注意哪些?在设计被测电路的时候需要注意哪些要素?
像导体的损耗相关的也能通过S参数推导吗?
大家在修正模型方面还有哪些参数值得关注?
修正的参数是不是直接在HFSS里面新建材料的时候输入相关的数值，就可以获得跟实际情况更吻合的仿真结果?

主要通过反复修改介电常数，损耗正切角进行调整，有同事把实测和仿真做的很接近，波形基本一致，不过计算效率的话，虽然S11波形浅，转换成TRP（手机的一项有源参数）也对得上。也不要太纠结S11是否完全吻合，假如你的材料换了，还要重新调整，只要大致趋势对，仿真和实测时，改变某一参数，S11变化趋势一致就不错了。

是不是就是修正介质材料的multiple debye model input这个参数里面的数据?因为好像就这个可输入多个变量数据
像通过测量的数据是不是一般简单的方法就是通过一个ABCD矩阵来反推演算?
还有就是材料的类型type里面有 一些simple，nonlinear之类的是不是也是修正的因素?