使用ADS如何快速进行标准化测量？

使用ADS如何快速进行标准化测量?
例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等，读写时序的逻辑控制
如果通过编程的方法实现自动化测量，有熟悉的朋友么?
有那些思路、方法与例子呢?

小编不需要重复发帖吧，当心被禁言或删贴啊

也不算啊 是不同工具对同一个问题的求解方法与思路