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屏蔽效能测试

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
1 屏蔽效能测试

  屏蔽室或屏蔽小室的屏蔽效能测试或性能测试是安装的最后阶段,这也可能是最重要的阶段。不幸的是,测试过程被认为是麻烦的或在某种程度上被认为是不可思仪的。事实上,屏蔽效能测试很简单,并与MIL-STD-220也就是插入损耗测试标准是一致的。主要的区别在于测试所用的设备不同。
  屏蔽效能测试基本上等同于电子测试设备的校准。与测试设备一样,当屏蔽小室的屏蔽效能降低时就需要对其进行校准。
当校准屏蔽小室或测定屏蔽小室的屏蔽效能时,要使用辐射测试技术。所幸的是美国军方和安全部门已建立了相应的标准。这些标准描述了特定频率和测试场地条件下的测试方法、设备和测试过程。这些测试过程经过微小的调整,就能应用于任何屏蔽小室的安装,并满足用户要求。
  测试屏蔽效能最经常用到的两个测试标准或测试程序是MIL-STD-285和NSA 65-6。这些文件描述了对设备配置和测试场地的要求。每个程序中也规定了测试频率和衰减量。
2 测试标准的描述

3.1 MIL-STD-285
  近年来,MIL-STD-285不但在工业界广为应用,而且迄今为止应用最为广泛。MIL-STD-285规定的测试程序在屏蔽室规范上经常被引用,但其频率需根据用户要求进行调整。
  MIL-STD-285是第一个颁布的用于测试射频屏蔽小室标准,它颁布于1956年6月,用于替代颁布于1954年8月的MIL-A-18123(SHIPS)。
  MIL-STD-285标准的主要目的是为了建立一种标准或者方法,用于测量射频屏蔽室的衰减特性,这些屏蔽室用于频率范围从100KHz到10GHz的电子测试。该标准包括对测试频率、测试场地和屏蔽衰减(或者屏蔽效能)的要求。MIL-STD-285也提供了关于测试所需设备种类的描述。
  尽管MIL-STD-285标准覆盖了从100KHz到10GHz的频率范围,但它仅仅要求测量屏蔽室在5个频率点的衰减特性。
起初MIL-STD-285专门用来评价屏蔽室,它规定得极为详尽,甚至包括建议的测试点的位置,明确规定测试应在公用设施入口、门、观测窗等附近位置进行。MIL-STD-285也要求要给出屏蔽室四个面的测量结果,以及天线要根据截面接缝(section seam)和平面接缝(panel seam)进行水平和垂直定向的方法。
(转载与网络)

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