微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 手机设计讨论 > 手机射频设计讨论 > EGSM非信令模式检不出真不良的问题

EGSM非信令模式检不出真不良的问题

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
如题,现在的情况是不良样机测试3D,与标准样机测试数据对比发现tis差了将近5dB,但是利用非信令模式跑的话,不良样机一样可以pass,跑3 Channel的Maxber,发现标准样机可以跑到-108,但是不良样机一样可以跑到-108,有的Channel还比标准样机好!现在的loss在-10左右,是不是有点小?尝试更换天线板的位置,但是感觉没什么变化……
信令模式完全可以检出不良
但是工厂要求用非信令模式测,对这个问题大家有没有方向?
非常感谢大家!

请问下 这个测试是在 三角锥做的  还是屏蔽箱做的?

什么节奏         

多谢回复!
这个是在屏蔽盒里进行的非信令测试,在三角锥信令模式下测试放射的话也可以检出不良。
今天我试试在三角锥里非信令测试能不能检出,但是需要找位置,估计得好久

非信令是用软件自动化测试吗?是不是和信令测试设置不一样?

建议先进行远场测试确定信令不良机是否真的不良,

我认为先进行远场测试,确定远场信令性能。

非信令时,RF协议部分没有仪器交互,这是基本要求。有些非信令版本除了RF协议禁止,还对某些外设禁止,比如LCD或者CAMERA什么的,如果这些外设产生噪声,只能通过信令模式检查出来。

小编是天津三星的吧。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top