“4G and LTE”时代的来临，“Trial and Error”时代的终结
时间：10-02
整理：3721RD
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“Trial and Error”是工程实践调试方法，其基本原理模型是经验累积及误差迭代消除，具体在射频电路调试过程中，是根据原始参考设计，设定初始元件及器件值，调整元件组合及器件值大小，尽量减少与期望结果误差，通过反复努力，获得在期望结果容差范围内的，元件组合及器件值的调试方法。
“Trial and Error”在射频电路调试中比较常见，主要有两个原因：首先是因为射频电路比较复杂，射频特性受很多因素影响，不同应用平台的元件组合及器件值完全不同，所谓参考设计仅能提供基本的性能参考，必须通过较长过程的经验累积及误差迭代消除，也即“调调试试”的过程，才能实现期望的性能结果。另外，“Trial and Error”调试方法的入门门槛较低，不需对射频电路有深刻的认识和理解，甚至可以简化为换器件及测试，适用于技术资源较薄弱，但又需大量支撑的场合，所以“Trial and Error”甚至被戏称为体力活，依靠的是“运气和努力”。
“Trial and Error”调试方法在手机2G时代大量使用，并取得了较好的实际效果，基本原因是因为手机2G时代的射频电路以功率指标为主，器件理论设计与实际参数吻合较好，只要射频电路设计，生产及装配严格以50欧姆为品控指标，调试难度不大，仅需根据参考设计，调整为数不多的元件，应付几个频段即可，所以实际使用结果较好，但也同时掩盖了一个问题：“Trial and Error”其实并不能算是严格意义上的射频知识积累，累积的所谓经验，仅能处理相同或类似的问题，对于手机3G时代面临的射频电路调试问题，其弱点逐渐暴露出来。
手机3G时代开始以复杂的数字调制为重要特征，所以射频电路以功率和线性为重要指标，由于理论的局限性，射频电路线性指标的理论设计与实际参数吻合较差，所以手机3G时代开始，射频电路的调试难度显著增加，不同应用平台射频电路的的不确定性开始体现，原始参考电路很难在不同应用平台上统一使用，也不能通过调整为数不多的元件，实现期望的射频性能，基本凭借“运气和努力”，依靠“Trial and Error”，期望最大限度地实现射频性能。
然而，在单调繁琐的调试过程中，“Trial and Error”调试方法的问题在逐渐体现出来：首先，“Trial and Error”是基于人类线性思维方式工作的，例如器件值增大，性能变好，我们就只能认为误差迭代消除的方向是器件值增大，对于两个或以上器件组合或值变化组合，对性能的影响，完全没有相应的思维方式和处理方法，所以“Trial and Error”的误差迭代消除方式是非常缓慢，并且是不可靠的，具体表现为可能很快有较好的结果，也可能花费很多时间和精力也不能获得好的性能结果，只能依靠增加资源投入或降低标准，以实现性能目标。
其次，“Trial and Error”的初始状态，通常基于原始参考设计，由于实际射频电路设计与原始参考设计存在差别，有可能射频特性完全不同，因此基于原始参考设计的初始状态，有可能完全不能在实际射频电路上，实现期望的射频性能，这也可能是某些“Trial and Error”调试方法陷入“死胡同”，始终不能实现期望的射频性能的根本原因。
最后，“Trial and Error”从方法原理上，仅可能找到局部最优解，很难实现全局最优解，即使用“Trial and Error”调试方法所实现的最佳射频性能，仅是“调调试试”过程中射频性能最佳的，对于射频电路可能实现的潜在最佳射频性能，“Trial and Error” 线性工作过程中累积的数据和结果，无现实指导意义，所以射频电路可能并能体现真正的最佳射频性能。
“4G and LTE”时代的来临，对射频电路提出了更高的要求，不仅是射频电路更复杂，功能单位面积更小，应用频段更多，功率和线性要求更高，更重要的是，产品周期更快，研发及调试风险更大。显然，“Trial and Error”从方法，原理及应用上，是不能适合“4G and LTE”的要求的。所以，普遍地有“4G and LTE”射频电路较难调试的现象，因此，运用新的射频电路调试方法，切实可行地高效解决目前射频电路调试面临的根本问题，具有很强的指导意义及实用价值。
对于“4G and LTE”时代的射频电路，已总结出一套完整的基于仿真的高级调试方法，仿真与实测结果的吻合度达到90%以上，完全不依赖“Trial and Error”，可高效解决目前射频电路面临的根本调试问题，基本做到3天左右完成目前“4G and LTE”，5模12频段的射频调试工作，而且射频性能基本实现全局最优，最大限度地发挥射频电路的最佳性能。
由于新的射频电路调试方法基于射频电路数字仿真技术，而ADS是最容易获得的射频电路仿真手段，所以附件以ADS为例，介绍了初级阶段，基于ADS仿真的射频电路调试方法，并增加了一些射频知识方面的内容，希望有“抛砖引玉”的作用。需着重指出的是，ADS的S参数射频电路仿真，是基于传输线方程的数值仿真计算，而双工器等是基于MAXWELL方程的射频功能器件，在附件的应用实例中，实质是用S参数代替双工器进行ADS数值仿真计算，其结果必然与实测结果误差较大，而且工作频率越高，误差越大，所以此方法为初级调试方法，目的是掌握新的思维方式和工作方法，熟练的话，可以确保半日或1日完成“4G and LTE”1个频段的射频调试工作，相对“Trial and Error” 单调繁琐的调试过程，以及依靠“运气和努力”的性能结果，已经是很大的进步。
“Trial and Error”在射频电路调试中比较常见，主要有两个原因：首先是因为射频电路比较复杂，射频特性受很多因素影响，不同应用平台的元件组合及器件值完全不同，所谓参考设计仅能提供基本的性能参考，必须通过较长过程的经验累积及误差迭代消除，也即“调调试试”的过程，才能实现期望的性能结果。另外，“Trial and Error”调试方法的入门门槛较低，不需对射频电路有深刻的认识和理解，甚至可以简化为换器件及测试，适用于技术资源较薄弱，但又需大量支撑的场合，所以“Trial and Error”甚至被戏称为体力活，依靠的是“运气和努力”。
“Trial and Error”调试方法在手机2G时代大量使用，并取得了较好的实际效果，基本原因是因为手机2G时代的射频电路以功率指标为主，器件理论设计与实际参数吻合较好，只要射频电路设计，生产及装配严格以50欧姆为品控指标，调试难度不大，仅需根据参考设计，调整为数不多的元件，应付几个频段即可，所以实际使用结果较好，但也同时掩盖了一个问题：“Trial and Error”其实并不能算是严格意义上的射频知识积累，累积的所谓经验，仅能处理相同或类似的问题，对于手机3G时代面临的射频电路调试问题，其弱点逐渐暴露出来。
手机3G时代开始以复杂的数字调制为重要特征，所以射频电路以功率和线性为重要指标，由于理论的局限性，射频电路线性指标的理论设计与实际参数吻合较差，所以手机3G时代开始，射频电路的调试难度显著增加，不同应用平台射频电路的的不确定性开始体现，原始参考电路很难在不同应用平台上统一使用，也不能通过调整为数不多的元件，实现期望的射频性能，基本凭借“运气和努力”，依靠“Trial and Error”，期望最大限度地实现射频性能。
然而，在单调繁琐的调试过程中，“Trial and Error”调试方法的问题在逐渐体现出来：首先，“Trial and Error”是基于人类线性思维方式工作的，例如器件值增大，性能变好，我们就只能认为误差迭代消除的方向是器件值增大，对于两个或以上器件组合或值变化组合，对性能的影响，完全没有相应的思维方式和处理方法，所以“Trial and Error”的误差迭代消除方式是非常缓慢，并且是不可靠的，具体表现为可能很快有较好的结果，也可能花费很多时间和精力也不能获得好的性能结果，只能依靠增加资源投入或降低标准，以实现性能目标。
其次，“Trial and Error”的初始状态，通常基于原始参考设计，由于实际射频电路设计与原始参考设计存在差别，有可能射频特性完全不同，因此基于原始参考设计的初始状态，有可能完全不能在实际射频电路上，实现期望的射频性能，这也可能是某些“Trial and Error”调试方法陷入“死胡同”，始终不能实现期望的射频性能的根本原因。
最后，“Trial and Error”从方法原理上，仅可能找到局部最优解，很难实现全局最优解，即使用“Trial and Error”调试方法所实现的最佳射频性能，仅是“调调试试”过程中射频性能最佳的，对于射频电路可能实现的潜在最佳射频性能，“Trial and Error” 线性工作过程中累积的数据和结果，无现实指导意义，所以射频电路可能并能体现真正的最佳射频性能。
“4G and LTE”时代的来临，对射频电路提出了更高的要求，不仅是射频电路更复杂，功能单位面积更小，应用频段更多，功率和线性要求更高，更重要的是，产品周期更快，研发及调试风险更大。显然，“Trial and Error”从方法，原理及应用上，是不能适合“4G and LTE”的要求的。所以，普遍地有“4G and LTE”射频电路较难调试的现象，因此，运用新的射频电路调试方法，切实可行地高效解决目前射频电路调试面临的根本问题，具有很强的指导意义及实用价值。
对于“4G and LTE”时代的射频电路，已总结出一套完整的基于仿真的高级调试方法，仿真与实测结果的吻合度达到90%以上，完全不依赖“Trial and Error”，可高效解决目前射频电路面临的根本调试问题，基本做到3天左右完成目前“4G and LTE”，5模12频段的射频调试工作，而且射频性能基本实现全局最优，最大限度地发挥射频电路的最佳性能。
由于新的射频电路调试方法基于射频电路数字仿真技术，而ADS是最容易获得的射频电路仿真手段，所以附件以ADS为例，介绍了初级阶段，基于ADS仿真的射频电路调试方法，并增加了一些射频知识方面的内容，希望有“抛砖引玉”的作用。需着重指出的是，ADS的S参数射频电路仿真，是基于传输线方程的数值仿真计算，而双工器等是基于MAXWELL方程的射频功能器件，在附件的应用实例中，实质是用S参数代替双工器进行ADS数值仿真计算，其结果必然与实测结果误差较大，而且工作频率越高，误差越大，所以此方法为初级调试方法，目的是掌握新的思维方式和工作方法，熟练的话，可以确保半日或1日完成“4G and LTE”1个频段的射频调试工作，相对“Trial and Error” 单调繁琐的调试过程，以及依靠“运气和努力”的性能结果，已经是很大的进步。
终端射频，一般是trail俺的better。要是有trail俺的error，基本上就改板了。
鲜虾条不管用了，切实感受到了
坑爹啊，看了半天，不就是推广软件吗！实践证明，不靠谱
thanks for share
不是有附件吗?
没什么信息含量
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