关于闭环功控的问题...

最近做测试，经常有各个厂家不同型号的手机在闭环功控TPC1测试项上FAIL~
找了半天没有发现设置上或者仪表有什么问题...
后来无意间改了线损，由1.0改到1.2或者1.3，结果就PASS了。
于是把以前FAIL掉的机子都拿出来试，发现虽然值不一，但是只要把线损往上提，终归是会过的……
不明白为什么闭环功控会被这么小的 线损所影响?~
请教大侠们~~~~

个人觉得，功控本来就是功率的问题，你改了线损，就改变了发射功率，恰好就把功控的结果给拉到了正确的功率范围，即是在功控容限范围内

你是测的哪个test step不过?

很多时候就是改线损值

回TOM128:基本都在step1上

可能是PA发射功率过高，处于饱合状态，从而使PA的切换点发生偏移，所以闭环功控会出问题

你说的线损具体指什么呢，是仪器的线损吗?
还望赐教

有道理，要不然单独线损肯定是不影响内环的。

闭环功控是发射的一个指标，主是决定是在于PA的一个发射性能的工作方式，你可以选择不用更改线损降低功率，可以将PA的工作电压在文件里面修改一下就可以了

学习中

长知识了

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