微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 手机设计讨论 > 手机射频设计讨论 > VIA 的GCT RF 射频方案 低温掉话问题

VIA 的GCT RF 射频方案 低温掉话问题

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
现在发现手机在正常的温度条件下使用,没有任何问题,但当在低温时机器仍然可以正常注册,在网,但当你发起呼叫的时候,就会出现接通5~10秒之后就断掉的问题,不知道那位高手有遇到过这种问题,能否给个解决方案,或意见,在此先谢过了;

换个晶振或者FEM看看。

同意楼上的,应该是晶振有问题,毕竟手机理论讲不存在LNA的低温震荡吧

这些都换过了,还是不行,还有没有其他办法。等待中!

做过高低问测试吗.
常温下指标正常吗.,...........

用的RF是什么方案?

先看下是误码率的问题还是发射的问题,低温下有问题去看看fem或双工器。

用的是GCT的方案,掉话的时候,好像是锁相环已经脱锁了,会重新搜网注册

查查AFC值,查查负载电容

改用FCI是方案,FCI的RF性能好。

用的是6401, 6403还是6411?

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top