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关于CDMA的带外杂散测试

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
最近想测一下手机的带外杂散性能,因为手头没有带阻滤波器,所以打算直接接上频谱仪进行扫描,这样有一些问题:
1. 衰减器是否需要?
因为是CDMA,最大功率25dBm,所以在频谱仪的功率范围内(30dBm)。而且我们正常测试时候使用衰减器也只是因为带阻的反射系数太大而需要的。那我现在不接衰减器是否有其他问题?
2. 没有带阻是否扫描出的信号失真太大?
手机发射信号最大最小功率相差70-80dB,我的频谱仪是Agilent E4407B,不加带阻是否造成的非线性失真太大?
那么在我这样直接接上频谱仪进行测试,将衰减调至最大,RBW调至最小,测得的结果是否可信?
还请各位赐教
谢谢

还有,我最想扫描的频点是二次和三次谐波,

没人理我,自己顶一个

最好加上Notch Filter。

或者直接接个低通滤波器 把主波滤除

滤波器还是要要的, 接个高通滤波器把

是啊 换高通滤波器

不同的测试需要的RBW 或者 VBW SPAN 等规范中都是规定好了的,不是设置成最小或者.....

还是接上滤波器吧。

谢谢各位的意见,大家基本都认为是需要带阻或高通滤波器。其实查阅相关资料也都是如此说明的
只是我现在很想知道如果不加会有什么样的影响,而且造成影响的因素是什么。毕竟我手头没有带阻,所以没有办法做对比实验,大家看看有什么看法,讨论一下

如果没有限波器的话就接一个高通滤波器

如果实在没有带阻滤波器
直接也是可以测的
特别是你主要是为了测试2、3次谐波点
比如说你为了看2次谐波点 你就把这个频率设成中心频率 SPAN设个100M好了
RBW设为1MHz
只要频谱仪不提示“中频过载” 那结果基本上是可信的
协议对这2个频点的要求最严格也不过-36dBm(一般只是要求过-13)
频谱仪其实可以看做是一个接收机
加上带阻滤波器的目的就是为了防止发射载频上的大信号进入频谱仪后引起频谱仪的前端接收机电路饱和

谢谢Bullbull兄的答复
可是还有点疑问:设置谐振点为center frenquency,span打小,的确是在显示屏幕上避开了强载频功率,可是因为没有带阻,大信号其实已经进入了频谱仪的前端接收机,我们改变中心频率其实也只是改变了频谱仪中本振的频率打小,调整Span也只是改变了IF Filter的参数,所以频谱仪前端接收时候因为这个大信号还是会出现饱和而失真现象,是否这样做有掩耳盗铃之嫌?
呵呵,我也不是很确定,大家一起讨论

楼上的,800MHZ,class 0,2次谐波指标是不是-13dBm呢?

所以我说要保证频谱仪不提示“中频过载”啊
接收机都有一定的抗阻塞能力
我们这样做的目的就是为了让频谱仪在它的抗阻性能内完成测试
这样的情况下,你杂散能测过
再加个带阻滤波器,能有测不过的道理?
还有,不用带阻滤波器测杂散
能测试的最低杂散值确实比较低
我印象中,在RBW为1MHz的情况下,也就到-50dBm左右吧
你再想往下测,就必须改“信号衰减”值了,但是一改下频谱仪就提示“中频过载”了
带上带阻滤波器肯定会好的多

谢谢bullbull的再次解释!
我测试到现在还没有遇到过IF overload的情况,所以请问bullbull什么情况下会出现过载现象?频谱仪的输入功率最大为30dBm,是否功率超出即会过载?为何改变衰减则会出现过载?
谢谢噢

过载很容易毁坏仪器的

你如果设置频谱的的最高可测幅度为30dBm的话,这个时候频谱仪的底噪。
太高了
为了底噪小,必然要调低最高可测幅度
有的时候甚至手动设置频谱仪的衰减档
这个时候很容易出现过载甚至如LS所说的烧坏仪器
所以频谱仪的衰减档一般都设成“自动”的

我好像原来这样测试过,然后被我们头批了……
好像还是应该借滤波器的吧,频谱仪本身来里面可以也有放大器之类的,你如果不把主峰信号给抑制掉一些,可是会带出其他的谐波成分,况且会不会出现饱和的状态呢,这样测试的结果就不准了。底噪太大,如果二三次谐波比较小的话可能看不见吧?

LS的,如果你们单位有带阻滤波器你不用,那肯定是要被头批的
问题是:很多时候我们没有这个滤波器
在没有这个滤波器的情况下,难道没有就不测了?
boss不k死你才怪
规矩是死的,实际情况中要灵活对待
还有你说的,“底噪太大,如果二三次谐波比较小的话可能看不见吧?”
CDMA带外杂散规定
从1G频率开始,带外杂散规定最严格的ITU-B类要求也只不过<-30dBm/MHz吧
(国内只要求A类的<-10dBm/MHz)
假设你测到2、3次谐波处就是底噪,又小于-40dBm的话
我不知道你想继续测下去谐波到底有多小,有什么实际意义?
毕竟我们在公司做的是产品、项目,不是搞科研

没有notch是一个比较头疼的问题,悄悄告诉你一个好办法,去市面上找一个过了标准的机器,对比着测试,哈哈。
  开玩笑,SA前端衰减大了低噪太高,衰减小了过载,两头都不是办法。
  可以将SPAN打到0,先将衰减设大点,然后慢慢减小衰减值,到看到谱线不再跟着衰减一起下降,这个时候可以再减少3dB衰减左右,然后在此情况下对比测试,不过实际上我也没这样做过

楼上的(小编),0 span不就是时域了吗?这样有何用意?还有后面的部分也不是很懂
洗耳恭听……

这样实际上就没有频谱上的扫描,IF滤波器的频率是一定的,只是为了保证你看到谱线的平坦。
  后面的意思就是你调整输入衰减到你的谐波刚刚高过底噪即可进行对比测试。

需要加上滤波器的
要不然没有办法真实的测试到带外杂散……
数据很没有代表性

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