微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 手机设计讨论 > 手机射频设计讨论 > BLE radiated spurious Emission fail

BLE radiated spurious Emission fail

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
采用的是Telink的BLE方案,单层板设计,送认证实验室测试, conducted spurious是可以通过,但 radiated spurious Emission (二阶harmonic)不能通过,水平扫描时最差,请问各位大师有何办法解决?非常感谢!

1.        把天线附近的二极管  例如LED  TVS拔掉  看有无改善?
2.        把屏蔽罩拔掉  看有无改善?

雄起,雄起

感谢回复,我这个没有屏蔽罩,LED去掉没什么用

       C神,我最近一个项目提交KC认证时也出现类似情况:高通平台,LTE B1 高频(channel 500)在 RB为1时 测试会出现二次谐波超限的情况。(其他性能没问题)
       请问在不更改硬件通路的情况下,能不能通过修改NV或者是校准来优化,有什么建议吗?谢谢

excel


pic


Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top