微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 手机设计讨论 > 手机射频设计讨论 > ADC相关

ADC相关

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
在硬件栏中提了以下问题,但没有一个人回复,很是伤心,很可能提错地方了,因此重提如下:
ADC在噪声这块有个指标S/N,我们往往根据FS功率减去S/N得到ADC的等效输入噪声.这个噪声是否包含量化噪声以及热噪声等全部噪声?另外S/N通过什么方法测试得到?它和经验公式6.02*N+1.72怎么联系起来?
欠采样中有个处理增益的概念,10log(Fs/2/BW),我想问的是实际处理中真的能在较宽的频带内只提取出BW内的有用信号吗?

我的个人理解是这样的:
ADC在噪声中(datasheet中的指标)的指标S/N:这个值是供应商提供的SNR=20log(RMS signal)/(RMS noise)就是信号与噪声之比,包含全部的噪声,但是不包括谐波失真。
对于ADC的SNR的测试,个人可能不太好测试,没有仔细的研究过。
ADC的SNR在你应用的芯片资料上都会给出来的。
理想情况下:SNR=6.02*N+1.72 ,SNR是不考虑失真成分的所有噪声之比,他反应了转化器的噪声背景。
另外一般资料中都会给出SINAD(信号与噪声+失真比),SNR总是好于SINAD。
对于欠采样,在ADC采样输出之后是存在多个镜像频率的,你需要使用相应的算法提取出有用信号,但是在欠采样中你没有办法确定载波的频率。
以上是我个人的理解,不知道能否给你以借鉴。

印象中
第一个问题:包含的
第2个问题:
采样中是有个处理增益的概念
简单的说就是你AD采样带宽内的噪声 折算成落在你 耐奎斯特 采样区间的噪声
这个就是处理增益。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top