耦合测试的时候 不同的位置相位误差不同是为什么

在屏蔽箱里，测试手机的相位误差和相位误差的RMS，发现改变不同的位置 其值能从1.1变化到5.0左右。规范是要求5，其他的手机也测试过，几乎就是不变的。在传导下是没什么问题的，有人遇到过这个现象吗? 是PA的LOADPULL 导致的吗，这个PA的LOADPULL 确实不好。

还有同事说是在某方向天线性能不好 此时肯定需要PA输出更高的功率做补偿 接近饱和功率 所以性能变差相位误差就增大
自己顶下 。

哦 都没人顶啊 问题好像经常出现吧 我看手机射频那一个类似的帖子 不过我这个事加屏蔽罩之后相位误差会好
目前的进展情况大致如下：
GSM900在低信道的时候 会有很大的信号耦合进入850一路的接收,信号肯定比850正常接收信号大的多 正常接收信号应该是-25dBm 到 -110dBm左右吧。
这个信号 当然测的是整个200K带宽内的信号强度是10dBm左右 。 在TC里面是怎么影响的就不知道了 反正不仅仅是这个CASE 有影响 开关谱 调制谱都有影响，不过是在传导下
900发是880-915  850收是869-894 因此大概900的前20个信号会有问题 这个和我们目前的分析结果也一致 。
不清楚在TC里850收的信号是如何影响到900的发射的呢 ?

最近没怎么来 怎么突然发现射频微波这个版块都没人了啊  。  难道还没度假回来。
顺便说下 现在LAYOUT PLACEMENT 原理图 器件都不能改了 大家有什么建议

还是没人帮顶啊，不过目前也有了结论了 天线开关的隔离不好 更换其他供应商的就OK 了