去嵌入方法测量晶体管S参数时的直流偏置问题
时间:10-02
整理:3721RD
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大家好,有一个问题想请教大家:
实验室里面没有探针平台之类的测试设备,
我想通过TRL的方法去嵌入测量表面贴装晶体管在某个直流偏置条件下的S参数,
这样子的话,必须给表面贴装的晶体管加入直流偏置,
那我如何把直流偏置带来的影响去除掉呢?
或者,是不是设计的时候可以通过注意直流偏置的隔离度,从而认为直流偏置带来的影响可以忽略不计?
还有一个问题:如果测试的晶体管不稳定,产生振荡了,这时候该如何解决?
实验室里面没有探针平台之类的测试设备,
我想通过TRL的方法去嵌入测量表面贴装晶体管在某个直流偏置条件下的S参数,
这样子的话,必须给表面贴装的晶体管加入直流偏置,
那我如何把直流偏置带来的影响去除掉呢?
或者,是不是设计的时候可以通过注意直流偏置的隔离度,从而认为直流偏置带来的影响可以忽略不计?
还有一个问题:如果测试的晶体管不稳定,产生振荡了,这时候该如何解决?
