问俩比较弱的问题，请大家给与解答，谢谢

1、矢网测S21时，校准后，若矢网输出信号功率改变了（与校准时所用功率不一样），这时测试的结果准确吗?
因为，我的矢网小信号校“不平”，我想用大信号校准，然后测试时改成小信号。
2、零中频接收机和超外差接收机的问题：
   采用超外差时，从中频变到基带信号时，不也相当于零中频，只不过信号频率在中频而不是射频，那这时候，零中频方案中直流偏置等问题在超外差的中频变到基带信号部分也会存在啊！
请大家给以解释，谢谢

1. 如果校准后，修改VNA的测量设置，仪器又会进入为校准状态 （Agilent的会出现“*”），提醒你需要校准；
2. 校准之后，可以通过smith圆图，观察校准精度，“不平”给人感觉判断太随意；
3. 零中频中的DC Offset，大部分是由于PLL的LO，泄漏到射频再混频形成的，而对于一般的超外差，在IF上进行ADC采用，然后在数字域通过乘法器（NCO?待确定）得到baseband信号，由于不存在模拟的LO泄漏，因此基本没有DC offset

回楼上：
  但是现在很多也采用模拟I/Q解调的方式啊，这个解调器的本振信号频率和中频信号频率是同频啊，是不是也会存在泄露啊(当然数字中频不存在这个问题).

超外差的中频－》基带过程中也会有DCoffset，但是其影响是微小的！只所以影响微小是因为零中频和超外差的增益分配方式！ 零中频的大部分增益集中在基带，而超外差的大部分增益集中在中频！

哦！这样解释感觉对了！醍醐灌顶啊！谢谢啊