微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 手机设计讨论 > 手机天线设计讨论 > 开关频谱超标问题解决

开关频谱超标问题解决

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
目前手上有个项目耦合测试时850频段开关频谱超标,点测主板是OK的(主板功率校在32.5左右),客户希望通过天线解决问题(目前耦合TRP能做到28-30)!各位大侠给支个招吧!

耦合主要看功率和灵敏度就好

一般是没有这个要求,
以前客户也要求这么做,我就在三角锥中找不同的位置 找到耦合功率最大的方向测试 或者稍微偏一点位置 试试!

没有这种要求的, 蛋疼

这要看手机的堆叠了

耦合需要测试开关谱么?
三角锥测试的结果还是耦合天线测试的结果?
三角锥测试开关谱超标的话,应该是三角锥影响了天线低频的阻抗
某些PA,譬如SKYWORKS的某些款PA,如果天线的低频阻抗不是很合理的话,三角锥测试时,PA很容易处于饱和状态,导致开关谱fail

我也遇到同样的问题,天线辐射4频性能都很好,只有G850的开关频谱超标,且只是两端信道FAIL,CH178-203是PASS,环境处理没用改善,请各位大侠支招!

一句话,调匹配!史密斯圆图!

上一篇:关于TIS跟TRP
下一篇:请教LDS专业人士

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top