微波EDA网，见证研发工程师的成长！

首页 > 研发问答 > 手机设计讨论 > 手机天线设计讨论 > 数据卡TIS随温度变化

数据卡TIS随温度变化

时间：10-02 整理：3721RD 点击：

数据卡的TIS随温度的升高测试值有一定的变化，有的时候会差1dB，大家有没有遇到过?这是为什么?

楼上的火星小编，能不能解释下为什么?

这个正常

上一篇：便宜主板便宜在哪里？
下一篇：求高手：PVT曲线和开关普超标的问题（急急急！）

栏目分类

热门文章

Copyright © 2017-2020 微波EDA网版权所有

Top