微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 手机设计讨论 > 手机天线设计讨论 > 手机天线进行3D测试时,为什么测试TIS的时间要远远高于测试TRP的时间?

手机天线进行3D测试时,为什么测试TIS的时间要远远高于测试TRP的时间?

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
小弟不幸被客户问到此问题,不知如何进行语言上的解释,希望高人予以解惑,不胜感激.

3Q大家

楼上正解。

因为测功率在一个位置只要读一下仪器的值
测灵敏度在一个角度要一步步降功率直到误码率不符合标准。

哦。原来是这样啊。

传导测试也是接收时间长啊,毕竟要找到一个合适的点。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top