微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 手机设计讨论 > 手机天线设计讨论 > 关于 2D与 3D 测试结果差异的讨论

关于 2D与 3D 测试结果差异的讨论

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
现在小弟有个问题:前段时间做项目的时候,低频耦合出现干扰。将FPC拔掉后在 2D模式下 测试 干扰消失。在3D模式下测,干扰还是存在。请问各位老大是什么原因造成的?

那你肯定不准了,问题是把FPC线去掉,为什么不在2D继续看是否存在,或者直接在3D中去看呢?

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top