微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 手机设计讨论 > 手机天线设计讨论 > 同样的测试结果,为啥在实际使用时会差距比较大?

同样的测试结果,为啥在实际使用时会差距比较大?

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
遇到这么个情况,我们做的一款GSM手机,所有测试也都通过,TRP,TIS也符合要求,测试结果跟一款NOKIA手机差不多,但是在实际使用过程中,在弱信号区,在100次基站CALL手机测试中,NOKIA接通率在85次以上,而我们的只有60多次?请问,这是什么原因造成的?怎么解决?不要跟我说是品牌差距。

自己顶一下,大家要早睡早起啊!~

无解?毛得人能解?

耦合的所有指标都测了?RMS PE & FREQ ERROE.....?测试时间稍微久一点,看看会不会出问题。

手握测了没?
哈哈,TRP,TIS据说有手握差20DB的,整个偏没了

呵呵,见识了!

软件对通信处理做得不一样啊

最好在拨打电话的时候,而且是屏亮的时候,测试下32KHz,和26MHz

手机的通话质量与以下几个因素有关:
天线本身的性能   手机射频性能  多径信号的处理
对干扰的抑制  语音的DSP处理

现在主要是从手机天线的性能上下手改进,有没有人遇到这种情况?(估计国内做这种测试的不多)

传导测试通过了,那么天线性能如何?效率,驻波比,匹配等
另外,有没有做过EMC?
之前遇到过跟你一模一样的问题,当然我做的是小灵通
最后的问题就是电池有干扰,加了吸波材料就好了

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top