active测试与passive测试的效率不一致一般有哪些原因？

在手机天线测试时，发现passive效率不错，但是由TRP与传导功率之差计算出的效率却低了10％，尤其是DCS和PCS频段。
active测试与passive测试的效率不一致一般有哪些原因?

会有各方面的因素影响啊,比如说PCB的兼容性,屏敝性,PA 与后级电路的匹配等等,因为ACTIVE是整个手机的综合性能的体现,而PASSIVE 只是针对天线本身的性能.

多谢楼上。
目前的实验初步看来是PA的输出阻抗有些失配造成的，正在验证中。

10%差异不是很大，其实研究一下，active passive 测试环境很不一样，差异可能来源于：passive cable, chamber calibration,etc.PA的输出阻抗失配，也完全可能。